FLUX KOREA

파티클 컨설팅, 실내환경 모니터링 전문기업

제품소개

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FLUX KOREA

PAMS_파티클 검수 측정 장치

No.1 플럭스코리아_제품샘플.hwpx

상세설명

제품설명

반도체 장비 부품의 파티클을 검출하고 제거하는 장치입니다.

제품용도

- 반도체부품의 표면, Hole, 등의 파티클 측정

- 고압분사모드 또는 급배기모드를 사용하여 파티클 측정 또는 제거

- 고압을 견디는 안전장치

- 마이크로 파티클, 나노 파티클 측정 가능

제품상세정보